水稻育種研究中，水稻表型參數(shù)至關(guān)重要，水稻表型檢測(cè)儀可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、總粒數(shù)和千粒重以及水稻莖稈分析等指標(biāo)的測(cè)量，可多點(diǎn)快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。這些表型參數(shù)在水稻品種篩選、水稻產(chǎn)量預(yù)測(cè)、稻穗動(dòng)態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。軟件集合多方面功能為一體，一站式解決水稻的表型參數(shù)測(cè)量問題。廣泛適用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的水稻研究。

水稻表型檢測(cè)系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍和誤差：

1、水稻畝穗數(shù)測(cè)量誤差： ≤±5%

2、稻穗形態(tài)測(cè)量范圍：   5~20cm

3、水稻夾角測(cè)量范圍：   0-180°

4、作物莖粗：        0-5.2cm

誤差

穗長誤差：      ±2%

夾角測(cè)量誤差：  +5%

作物莖粗測(cè)量誤差：   ±1mm

千粒重測(cè)量誤差：     ±2%

株高測(cè)量范圍：       0.1-1.5m

水稻莖稈測(cè)量誤差：.....±5%